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Non-Destructive Evaluation of Deep-Lying Defects in Multilayer Conductors Using HTS SQUID Gradiometer

Non-Destructive Evaluation of Deep-Lying Defects in Multilayer Conductors Using HTS SQUID Gradiometer

Kawano, J.; Hato, T.; Adachi, S.; Oshikubo, Y.; Tsukamoto, A.; Tanabe, K.

期刊名称IEEE Transactions on Applied Superconductivity
作者Kawano, J.; Hato, T.; Adachi, S.; Oshikubo, Y.; Tsukamoto, A.; Tanabe, K.
卷第21卷
期第3期
印刷ISSN1051-8223
电子ISSN1558-2515
文件大小533.91KB
发表时间2011-06
DOI10.1109/tasc.2010.2090852
页码428-431

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