Analytical Soft Error Models Accounting for Die-to-Die and Within-Die Variations in Sub-Threshold SRAM Cells
Mostafa, H.; Anis, M.H.; Elmasry, M.
- 作者Mostafa, H.; Anis, M.H.; Elmasry, M.
- 卷第19卷
- 期第2期
- 文件大小825.17KB
- 发表时间2011
- DOI10.1109/tvlsi.2009.2033697
- 页码182-195