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Analytical Soft Error Models Accounting for Die-to-Die and Within-Die Variations in Sub-Threshold SRAM Cells

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Mostafa, H.; Anis, M.H.; Elmasry, M.
  • 作者Mostafa, H.; Anis, M.H.; Elmasry, M.
  • 卷第19卷
  • 期第2期
  • 文件大小825.17KB
  • 发表时间2011
  • DOI10.1109/tvlsi.2009.2033697
  • 页码182-195
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