![Electronics of Time-of-flight Measurement for Back-n at CSNS]()
Electronics of Time-of-flight Measurement for Back-n at CSNSYu, T.; Cao, P.; Huang, X.R.; An, Q.; Feng, C.Q.; Liu, S.B.; Yu, L.; Ji, X.Y.; Xie, L.K.; Fan, R.R.; Sun, Z.J.; Zhang, L.Y.; Wang, T.F.; Bao, J.; He, G.Z.; Huang, H.X.; Luan, G.Y.; Ren, J.; Ruan, X.C.; Tang, H.Q.; Wang, Q.; Jiangf, W.; Wu, X.G.; Zhang, Q.W.; Zhong, Q.P.; Zhou, Z.Y.; Chen, Y.H.; He, Y.C.; Huang, W.L.; Jiang, W.; Jing, H.T.; Kang, L.; Li, B.; Li, L.; Li, Q.; Li, X.; Ma, Y.L.; Ning, C.J.; Sun, H.; Sun, X.Y.; Tan, Z.X.; Tang, J.Y.; Wang, P.C.; Wang, Y.F.; Wang, Z.; Wu, Q.B.; Wu, X.; Yi, H.; Yu, Y.J.; Zhang, J.; Zhou, L.; Gu, M.H.; Ji, X.L.; Li, Y.; Zhu, K.J.; Han, Z.J.; Liu, R.; Liu, X.Y.; Wen, J.; Wen, Z.W.; Yang, Y.W.; Song, Z.H.; Zhang, X.P.; Bai, H.Y.; Cui, Z.Q.; Jiang, H.Y.; Zhang, G.H.; Cheng, P.J.; He, Y.F.; Zhang, Q.M.; Zhao, Y.T. · IEEE Transactions on Nuclear Science · 2019