Reducing the switching activity of test sequences under transparent-scan

• 期刊名称ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
• 作者Pomeranz, Irith; Reddy, Sudhakar M.
• 卷第16卷
• 期第2期
• 印刷ISSN1084-4309
• 文件大小176.35KB
• 发表时间2011-03-01
• DOI10.1145/1929943.1929949
• 页码1-21