Introduction
- 期刊名称The Journal of the American Academy of Psychoanalysis and Dynamic Psychiatry
- 作者Berry, Gail W.
- 卷第39卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1546-0371
- 文件大小313.20KB
- 发表时间2011-03
- DOI10.1521/jaap.2011.39.1.179
- 页码179-180
SPIE Proceedings [SPIE 32nd Annual Technical Symposium - San Diego, CA (Monday 15 August 1988)] X-Ray Multilayers in Diffractometers, Monochromators, and Spectrometers - <title>Monolithic Fabry-Perot Structure For Soft X-Rays</title>Fernandez, Felix E.; Riedel, C.; Smith, A.; Edwards, B.; Lai, B.; Cerrina, F.; Carr, Martin J.; Romig, Jr., A. D.; Corno, J.; Nevot, L.; Pardo, B.; Slaughter, J. M.; Falco, Charles M.; Christensen, Finn E. · 1988
SPIE Proceedings [SPIE 29th Annual Technical Symposium - San Diego (Tuesday 20 August 1985)] Applications of Thin Film Multilayered Structures to Figured X-Ray Optics - <title>Characterization Of Multilayered Structures For Soft X-Ray Mirrors</title>Chauvineau, J. P.; Corno, J.; Decanini, D.; Nevot, L.; Pardo, B.; Marshall, Gerald F. · 1985
La bistabilité optiqueLaval, S. · Revue de Physique Appliquée · 1984
Laddertron developmentsAitken, T.W.; Leese, J.M. · Revue de Physique Appliquée · 1977
Passivation des semiconducteurs III-VViktorovitch, P. · Revue de Physique Appliquée · 1990
Neutron scattering at high pressureMcWhan, D.B. · Revue de Physique Appliquée · 1984
EditorialRodot, Michel; Etievant, Claude · Revue de Physique Appliquée · 1979
Dislocation core effects in plasticityVeyssière, P. · Revue de Physique Appliquée · 1988
Surfaces and interfaces of semiconductorsGuillot, G.; Joseph, J. · Revue de Physique Appliquée · 1990
Revue de LivresRevue de Physique Appliquée · 1983