Microstructural Characterization in Reliability Measurement of Phase Change Random Access Memory

J. Bae; K. Hwang; K. Park; S. Jeon; D. Kang; S. Park; J. Ahn; S. Kim; G. Jeong; C. Chung

作者J. Bae; K. Hwang; K. Park; S. Jeon; D. Kang; S. Park; J. Ahn; S. Kim; G. Jeong; C. Chung
文件大小919.26KB
发表时间2011
DOI10.1143/JJAP.50.04DD12

发现好书期刊，享受阅读乐趣