Conductive-probe atomic force microscopy characterization of silicon nanowire
José Alvarez; Irène Ngo; Marie-Estelle Gueunier-Farret; Jean-Paul Kleider; Linwei Yu; Pere Rocai Cabarrocas; Simon Perraud; Emmanuelle Rouvière; Caroline Celle; Céline Mouchet; Jean-Pierre Simonato
- 作者José Alvarez; Irène Ngo; Marie-Estelle Gueunier-Farret; Jean-Paul Kleider; Linwei Yu; Pere Rocai Cabarrocas; Simon Perraud; Emmanuelle Rouvière; Caroline Celle; Céline Mouchet; Jean-Pierre Simonato
- 卷第6卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1931-7573
- 电子ISSN1556-276X
- 文件大小3079.25KB
- 发表时间2011-12
- DOI10.1186/1556-276x-6-110