Molecular dynamics simulations of oxide memristors: thermal

• 作者S. E. Savel’ev; A. S. Alexandrov; A. M. Bratkovsky; R. Stanley Williams
• 卷第102卷
• 期第4期
• 印刷ISSN0947-8396
• 电子ISSN1432-0630
• 文件大小943.51KB
• 发表时间2011-03
• DOI10.1007/s00339-011-6293-4
• 页码891-895