Dislocation Analysis in (112)B HgCdTe/CdTe/Si

• 作者J. D. Benson; S. Farrell; G. Brill; Y. Chen; P. S. Wijewarnasuriya; L. O. Bubulac; P. J. Smith; R. N. Jacobs; J. K. Markunas; M. Jaime-Vasquez; L. A. Almeida; A. Stoltz; U. Lee; M. F. Vilela; J. Peterson; S. M. Johnson; D. D. Lofgreen; D. Rhiger; E. A. Patten; P. M. Goetz
• 卷第40卷
• 期第8期
• 印刷ISSN0361-5235
• 电子ISSN1543-186X
• 文件大小491.59KB
• 发表时间2011-08
• DOI10.1007/s11664-011-1670-5
• 页码1847-1853