发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

High-energy diffraction microscopy at the advanced photon source

High-energy diffraction microscopy at the advanced photon source

U. Lienert; S. F. Li; C. M. Hefferan; J. Lind; R. M. Suter; J. V. Bernier; N. R. Barton; M. C. Brandes; M. J. Mills; M. P. Miller; B. Jakobsen; W. Pantleon
  • 作者U. Lienert; S. F. Li; C. M. Hefferan; J. Lind; R. M. Suter; J. V. Bernier; N. R. Barton; M. C. Brandes; M. J. Mills; M. P. Miller; B. Jakobsen; W. Pantleon
  • 卷第63卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN1047-4838
  • 电子ISSN1543-1851
  • 文件大小1327.37KB
  • 发表时间2011-07
  • DOI10.1007/s11837-011-0116-0
  • 页码70-77
← 返回【学霸图书馆】主页