发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Combined SIMS-SPM instrument for high sensitivity and high-resolution elemental 3D analysis

Tom Wirtz; Yves Fleming; Urs Gysin; Thilo Glatzel; Urs Wegmann; Ernst Meyer; Urs Maier; Jörg Rychen

作者Tom Wirtz; Yves Fleming; Urs Gysin; Thilo Glatzel; Urs Wegmann; Ernst Meyer; Urs Maier; Jörg Rychen
印刷ISSN0142-2421
电子ISSN1096-9918
文件大小245.98KB
发表时间2012
DOI10.1002/sia.5010