Allergiediagnostik mit dem Epikutantest droht das Aus
A. Schnuch; V. Mahler; P. Elsner; S.M. John; M. Reusch; H. Merk; H, Ott; A. Bufe; B. Przybilla; J. Kleine-Tebbe; T. Werfel; D. Nowak
- 作者A. Schnuch; V. Mahler; P. Elsner; S.M. John; M. Reusch; H. Merk; H, Ott; A. Bufe; B. Przybilla; J. Kleine-Tebbe; T. Werfel; D. Nowak
- 卷第63卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0017-8470
- 电子ISSN1432-1173
- 文件大小185.37KB
- 发表时间2012-03
- DOI10.1007/s00105-012-2345-8
- 页码250-252