Sequential maximum likelihood estimation for reflected Ornstein–Uhlenbeck processes

• 作者Chihoon Lee; Jaya P.N. Bishwal; Myung Hee Lee
• 卷第142卷
• 期第5期
• 印刷ISSN0378-3758
• 文件大小274.96KB
• 发表时间2012
• DOI10.1016/j.jspi.2011.12.002
• 页码1234-1242