Shot-Noise-Induced Failure in Nanoscale Flip-Flops—Part I: Numerical Framework

• 作者Jannaty, P.; Sabou, F.C.; Le, S.T.; Donato, M.; Donato, R.I.; Donato, W.; Mundy, J.; Zaslavsky, A.
• 卷第59卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小598.07KB
• 发表时间2012
• DOI10.1109/ted.2011.2177983
• 页码800-806