Novel Layout Technique for N-Hit Single-Event Transient Mitigation via Source-Extension

Jianjun Chen, ; Shuming Chen, ; Yibai He, ; Yaqing Chi, ; Junrui Qin, ; Bin Liang, ; Biwei Liu,

期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
作者Jianjun Chen, ; Shuming Chen, ; Yibai He, ; Yaqing Chi, ; Junrui Qin, ; Bin Liang, ; Biwei Liu,
卷第59卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小1089.22KB
发表时间2012-12
DOI10.1109/tns.2012.2212457
页码2859-2866

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