Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65 nm Bulk CMOS Technology

He Yibai, ; Chen Shuming, ; Chen Jianjun, ; Chi Yaqing, ; Liang Bin, ; Liu Biwei, ; Qin Junrui, ; Du Yankang, ; Huang Pengcheng,

期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
作者He Yibai, ; Chen Shuming, ; Chen Jianjun, ; Chi Yaqing, ; Liang Bin, ; Liu Biwei, ; Qin Junrui, ; Du Yankang, ; Huang Pengcheng,
卷第59卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小805.84KB
发表时间2012-12
DOI10.1109/tns.2012.2218256
页码2772-2777

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