发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

A General Automatic Test System for Instruments in IC Equipment

A General Automatic Test System for Instruments in IC Equipment

Su, Xiaoshan; Tian, Ling
  • 期刊名称IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
  • 作者Su, Xiaoshan; Tian, Ling
  • 卷第61卷
  • 期第9期
  • 印刷ISSN0018-9456
  • 电子ISSN1557-9662
  • 文件大小787.92KB
  • 发表时间2012-09
  • DOI10.1109/tim.2012.2188659
  • 页码2591-2599
← 返回【学霸图书馆】主页