[ACM Press Proceeding of the workshop - Mumbai, India (2012.12.16-2012.12.16)] Proceeding of the workshop on Document Analysis and Recognition - DAR '12 - Detection and removal of hand-drawn underlines in a document image using approximate digital straightness
- 作者Pratihar, Sanjoy; Bhowmick, Partha; Sural, Shamik; Mukhopadhyay, Jayanta
- 文件大小920.22KB
- 发表时间2012
- DOI10.1145/2432553.2432576
Transverse field dependence of the planar Hall effect sensitivity in Permalloy filmsJen, S. U.; Lee, J. Y.; Yao, Y. D.; Chen, W. L. · Journal of Applied Physics · 2001
andJen, C.-M.; Chang, P.; Abe, K.; Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Anipko, D.; Arinstein, K.; Aulchenko, V.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Barbero, M.; Bay, A.; Bedny, I.; Belous, K.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Chen, A.; Chen, W. T.; Cheon, B. G.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choi, Y. K.; Chuvikov, A.; Cole, S.; Dalseno, J.; Dash, M.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fratina, S.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Go, A.; Gokhroo, G.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hoshi, Y.; Hou, S.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y. B.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kang, J. H.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Khan, H. R.; Kichimi, H.; Kim, H. J.; Kim, Y. J.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuo, C. C.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Leder, G.; Lee, S. E.; Lee, Y.-J.; Lesiak, T.; Lin, S.-W.; Liventsev, D.; Mandl, F.; Matsumoto, T.; McOnie, S.; Mitaroff, W.; Miyake, H.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Nagamine, T.; Nagasaka, Y.; Nakano, E.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ozaki, H.; Palka, H.; Park, C. W.; Park, H.; Peak, L. S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Poluektov, A.; Sakai, Y.; Schietinger, T.; Schneider, O.; Schwartz, A. J.; Seidl, R.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Somov, A.; Soni, N.; Stanič, S.; Stoeck, H.; Sumiyoshi, T.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tanaka, M.; Taylor, G. N.; Teramoto, Y.; Tian, X. C.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Villa, S.; Wang, C. C.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Watanabe, Y.; Won, E.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Zhang, L. M.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zupanc, A. · Physical Review D · 2006
Electro-rheologyBlock, H; Kelly, J P · Journal of Physics D: Applied Physics · 1988
Semiconductor nanowiresLu, Wei; Lieber, Charles M · Journal of Physics D: Applied Physics · 2006
Nanoassembled model catalystsHeiz, Ueli; Schneider, Wolf-Dieter · Journal of Physics D: Applied Physics · 2000
Mechanisms for exchange biasStamps, R L · Journal of Physics D: Applied Physics · 2000
Thermal plasma waste treatmentHeberlein, Joachim; Murphy, Anthony B · Journal of Physics D: Applied Physics · 2008
Surface enhanced fluorescenceFort, Emmanuel; Grésillon, Samuel · Journal of Physics D: Applied Physics · 2008
Nanocomposite dielectrics—properties and implicationsNelson, J K; Hu, Y · Journal of Physics D: Applied Physics · 2005
Memristor-based neural networksThomas, Andy · Journal of Physics D: Applied Physics · 2013