Randomized Benchmarking of Multiqubit Gates

Gaebler, J. P.; Meier, A. M.; Tan, T. R.; Bowler, R.; Lin, Y.; Hanneke, D.; Jost, J. D.; Home, J. P.; Knill, E.; Leibfried, D.; Wineland, D. J.

期刊名称Physical Review Letters
作者Gaebler, J. P.; Meier, A. M.; Tan, T. R.; Bowler, R.; Lin, Y.; Hanneke, D.; Jost, J. D.; Home, J. P.; Knill, E.; Leibfried, D.; Wineland, D. J.
卷第108卷
期第26期
印刷ISSN0031-9007
电子ISSN1079-7114
文件大小254.29KB
发表时间2012-6-26
DOI10.1103/PhysRevLett.108.260503

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