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SEQUENTIAL LOGIC CIRCUITS RELIABILITY ANALYSIS

SEQUENTIAL LOGIC CIRCUITS RELIABILITY ANALYSIS

JAHANIRAD, HADI; MOHAMMADI, KARIM
  • 期刊名称Journal of Circuits, Systems and Computers
  • 作者JAHANIRAD, HADI; MOHAMMADI, KARIM
  • 卷第21卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0218-1266
  • 电子ISSN1793-6454
  • 文件大小243.00KB
  • 发表时间2012-08
  • DOI10.1142/S0218126612500405
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