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$Electron Backscatter Diffraction Characterization of Nanostructured Thermoelectric Materials$

Electron Backscatter Diffraction Characterization of Nanostructured Thermoelectric Materials

Nowell, M.; Beck, J.; Alvarado, M.; Nemir, D.

期刊名称Microscopy and Microanalysis
作者Nowell, M.; Beck, J.; Alvarado, M.; Nemir, D.
卷第18卷
印刷ISSN1431-9276
电子ISSN1435-8115
文件大小817.42KB
发表时间2012-7
DOI10.1017/s1431927612009105
页码1450-1451

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