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Secondary fluorescence in electron probe microanalysis of material couples

Secondary fluorescence in electron probe microanalysis of material couples

Llovet, X; Pinard, P T; Donovan, J J; Salvat, F

期刊名称Journal of Physics D: Applied Physics
作者Llovet, X; Pinard, P T; Donovan, J J; Salvat, F
卷第45卷
期第22期
印刷ISSN0022-3727
电子ISSN1361-6463
文件大小250.31KB
发表时间2012-06-06
DOI10.1088/0022-3727/45/22/225301

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