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Sample surface atomic resolution secondary electron imaging with an aberration corrected STEM

Inada, H.; Nakamura, K.; Tamura, K.; Suzuki, Y.; Sato, T.; Konno, M.; Su, D.; Wall, J.; Zhu, Y.; Ciston, J.

期刊名称Microscopy and Microanalysis
作者Inada, H.; Nakamura, K.; Tamura, K.; Suzuki, Y.; Sato, T.; Konno, M.; Su, D.; Wall, J.; Zhu, Y.; Ciston, J.
卷第18卷
印刷ISSN1431-9276
电子ISSN1435-8115
文件大小464.33KB
发表时间2012-7
DOI10.1017/s1431927612003790
页码388-389