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Exponential Asymptotics for Thin Film Rupture

Exponential Asymptotics for Thin Film Rupture

Chapman, S. Jonathan; Trinh, Philippe H.; Witelski, Thomas P.
  • 期刊名称SIAM Journal on Applied Mathematics
  • 作者Chapman, S. Jonathan; Trinh, Philippe H.; Witelski, Thomas P.
  • 卷第73卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0036-1399
  • 电子ISSN1095-712X
  • 文件大小1451.70KB
  • 发表时间2013-01
  • DOI10.1137/120872012
  • 页码232-253
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