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Modeling of Parasitic Fringing Capacitance in Multifin Trigate FinFETs

Modeling of Parasitic Fringing Capacitance in Multifin Trigate FinFETs

Lee, KwangWon; An, TaeYoon; Joo, SoYeon; Kwon, Kee-Won; Kim, SoYoung

期刊名称IEEE Transactions on Electron Devices
作者Lee, KwangWon; An, TaeYoon; Joo, SoYeon; Kwon, Kee-Won; Kim, SoYoung
卷第60卷
期第5期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小756.30KB
发表时间2013-05
DOI10.1109/ted.2013.2252467
页码1786-1789

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