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Creep Behavior of P92 and P92 Welds at 675
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C

Creep Behavior of P92 and P92 Welds at 675 ° C

Tanner, David W. J.; Saber, Mohammed; Sun, Wei; Hyde, Thomas H.

期刊名称Journal of Pressure Vessel Technology
作者Tanner, David W. J.; Saber, Mohammed; Sun, Wei; Hyde, Thomas H.
卷第135卷
期第5期
印刷ISSN0094-9930
文件大小1635.72KB
发表时间2013-09-16
DOI10.1115/1.4024640

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