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IEEE Global History Network - IEEE Was Here

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  • 期刊名称IEEE Design & Test
  • 卷第30卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN2168-2356
  • 电子ISSN2168-2364
  • 文件大小1273.25KB
  • 发表时间2013-06
  • DOI10.1109/mdat.2013.2280235
  • 页码93-93
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