Voltage Dependency of Propagating Single-Event Transient Pulsewidths in 90-nm CMOS Technology

Junrui Qin, ; Shuming Chen, ; Bin Liang, ; Zhen Ge, ; Yibai He, ; Yankang Du, ; Biwei Liu, ; Jianjun Chen, ; Dawei Li,

期刊名称IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
作者Junrui Qin, ; Shuming Chen, ; Bin Liang, ; Zhen Ge, ; Yibai He, ; Yankang Du, ; Biwei Liu, ; Jianjun Chen, ; Dawei Li,
卷第14卷
期第1期
印刷ISSN1530-4388
电子ISSN1558-2574
文件大小250.68KB
发表时间2014-3
DOI10.1109/tdmr.2013.2255597
页码139-145

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