Characterization of optical constants of Se30Te70 thin film: Effect of the thickness

• 期刊名称Materials Science in Semiconductor Processing
• 作者Abd-Elrahman, M.I.; Khafagy, Rasha M.; Zaki, Shiamaa A.; Hafiz, M.M.
• 卷第18卷
• 印刷ISSN1369-8001
• 文件大小699.52KB
• 发表时间2014-2
• DOI10.1016/j.mssp.2013.10.017
• 页码1-5