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Survey on Voltage Dip Measurements in Standard Framework

Survey on Voltage Dip Measurements in Standard Framework

Gallo, Daniele; Landi, Carmine; Luiso, Mario; Fiorucci, Edoardo
  • 期刊名称IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
  • 作者Gallo, Daniele; Landi, Carmine; Luiso, Mario; Fiorucci, Edoardo
  • 卷第63卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0018-9456
  • 电子ISSN1557-9662
  • 文件大小6233.64KB
  • 发表时间2014-02
  • DOI10.1109/TIM.2013.2278996
  • 页码374-387
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