Investigation of the hard x-ray background in backlit pinhole imagersa)

Fein, J. R.; Peebles, J. L.; Keiter, P. A.; Holloway, J. P.; Klein, S. R.; Kuranz, C. C.; Manuel, M. J.-E.; Drake, R. P.

期刊名称Review of Scientific Instruments
作者Fein, J. R.; Peebles, J. L.; Keiter, P. A.; Holloway, J. P.; Klein, S. R.; Kuranz, C. C.; Manuel, M. J.-E.; Drake, R. P.
卷第85卷
期第11期
印刷ISSN0034-6748
电子ISSN1089-7623
发表时间2014-11
DOI10.1063/1.4891051

发现好书期刊，享受阅读乐趣