发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

(Invited) Dielectric Damage

(Invited) Dielectric Damage

Shohet, J. L.; Lin, Q.; King, S. W.; Ren, H.; Banna, S.; Jakes, J. E.; Agasie, R. J.; Naik, M.; Nishi, Y.; Nichols, M. T.; Mavrakakis, K.; Hsu, K.; Guo, X.; Pei, D.; Li, W.; Choudhury, F.; Zheng, H.
  • 期刊名称ECS Transactions
  • 作者Shohet, J. L.; Lin, Q.; King, S. W.; Ren, H.; Banna, S.; Jakes, J. E.; Agasie, R. J.; Naik, M.; Nishi, Y.; Nichols, M. T.; Mavrakakis, K.; Hsu, K.; Guo, X.; Pei, D.; Li, W.; Choudhury, F.; Zheng, H.
  • 卷第60卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN1938-6737
  • 电子ISSN1938-5862
  • 文件大小270.26KB
  • 发表时间2014-02-27
  • DOI10.1149/06001.0733ecst
  • 页码733-738
← 返回【学霸图书馆】主页