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Multiscale approach to the electronic structure of doped semiconductor surfaces

Sinai, Ofer; Hofmann, Oliver T.; Rinke, Patrick; Scheffler, Matthias; Heimel, Georg; Kronik, Leeor

期刊名称Physical Review B
作者Sinai, Ofer; Hofmann, Oliver T.; Rinke, Patrick; Scheffler, Matthias; Heimel, Georg; Kronik, Leeor
卷第91卷
期第7期
印刷ISSN1098-0121
电子ISSN1550-235X
文件大小1108.15KB
发表时间2015-2-24
DOI10.1103/physrevb.91.075311