TEM and HRTEM Characterization of TiAl Diffusion Bonds Using Ni/Al Nanolayers
- 期刊名称Microscopy and Microanalysis
- 作者Simões, Sónia; Viana, Filomena; Ramos, Ana S.; Vieira, Maria T.; Vieira, Manuel F.
- 卷第21卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1431-9276
- 电子ISSN1435-8115
- 文件大小1005.23KB
- 发表时间2015-02
- DOI10.1017/s1431927614013087
- 页码132-139