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Nanoscale potential fluctuation in non-stoichiometric HfOx and low resistive transport in RRAM

Kruchinin, V.N.; Aliev, V.Sh.; Perevalov, T.V.; Islamov, D.R.; Gritsenko, V.A.; Prosvirin, I.P.; Cheng, C.H.; Chin, A.

期刊名称Microelectronic Engineering
作者Kruchinin, V.N.; Aliev, V.Sh.; Perevalov, T.V.; Islamov, D.R.; Gritsenko, V.A.; Prosvirin, I.P.; Cheng, C.H.; Chin, A.
卷第147卷
印刷ISSN0167-9317
文件大小764.99KB
发表时间2015-11
DOI10.1016/j.mee.2015.04.091
页码165-167