Radiation hardness ofn-GaN schottky diodes

Lebedev, A. A.; Belov, S. V.; Mynbaeva, M. G.; Strel’chuk, A. M.; Bogdanova, E. V.; Makarov, Yu. N.; Usikov, A. S.; Kurin, S. Yu.; Barash, I. S.; Roenkov, A. D.; Kozlovski, V. V.

期刊名称Semiconductors
作者Lebedev, A. A.; Belov, S. V.; Mynbaeva, M. G.; Strel’chuk, A. M.; Bogdanova, E. V.; Makarov, Yu. N.; Usikov, A. S.; Kurin, S. Yu.; Barash, I. S.; Roenkov, A. D.; Kozlovski, V. V.
卷第49卷
期第10期
印刷ISSN1063-7826
电子ISSN1090-6479
文件大小218.89KB
发表时间2015-10
DOI10.1134/S1063782615100127
页码1341-1343

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Radiation hardness ofn-GaN schottky diodes