The effect of oxide precipitates on minority carrier lifetime in
n
-type silicon
Murphy, J. D.; Al-Amin, M.; Bothe, K.; Olmo, M.; Voronkov, V. V.; Falster, R. J.
- 期刊名称Journal of Applied Physics
- 作者Murphy, J. D.; Al-Amin, M.; Bothe, K.; Olmo, M.; Voronkov, V. V.; Falster, R. J.
- 卷第118卷
- 期第21期
- 印刷ISSN0021-8979
- 电子ISSN1089-7550
- 文件大小2319.95KB
- 发表时间2015-12-07
- DOI10.1063/1.4936852