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<i>The Importation of the FET Standard through MFN Clauses: An Empirical Study of BITs</i>

The Importation of the FET Standard through MFN Clauses: An Empirical Study of BITs

Dumberry, Patrick

期刊名称ICSID Review
作者Dumberry, Patrick
印刷ISSN0258-3690
电子ISSN2049-1999
文件大小212.15KB
发表时间2016-07-01
DOI10.1093/icsidreview/siw012

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