[Power Electronics and Power Systems] Power GaN Devices || Reliability Aspects of 650-V-Rated GaN Power Devices
Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
- 作者Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
- 文件大小2690.12KB
- 发表时间2017
- DOI10.1007/978-3-319-43199-4_14
- 页码319-344