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Extraction of BEOL Contributions for Thermal Resistance in SiGe HBTs

Extraction of BEOL Contributions for Thermal Resistance in SiGe HBTs

Balanethiram, Suresh; D'Esposito, Rosario; Chakravorty, Anjan; Fregonese, Sebastien; Zimmer, Thomas
  • 期刊名称IEEE Transactions on Electron Devices
  • 作者Balanethiram, Suresh; D'Esposito, Rosario; Chakravorty, Anjan; Fregonese, Sebastien; Zimmer, Thomas
  • 卷第64卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0018-9383
  • 电子ISSN1557-9646
  • 文件大小1357.80KB
  • 发表时间2017-3
  • DOI10.1109/TED.2016.2645615
  • 页码1380-1384
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