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Universal sequential outlier hypothesis testing

Universal sequential outlier hypothesis testing

Li, Yun; Nitinawarat, Sirin; Veeravalli, Venugopal V.
  • 期刊名称Sequential Analysis
  • 作者Li, Yun; Nitinawarat, Sirin; Veeravalli, Venugopal V.
  • 卷第36卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0747-4946
  • 电子ISSN1532-4176
  • 文件大小733.18KB
  • 发表时间2017-07-03
  • DOI10.1080/07474946.2017.1360086
  • 页码309-344
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