发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Critical phenomenon in tapered dielectric structures

Critical phenomenon in tapered dielectric structures

Hanuka, Adi; Schächter, Levi
  • 期刊名称Optics Letters
  • 作者Hanuka, Adi; Schächter, Levi
  • 卷第42卷
  • 期第21期
  • 印刷ISSN0146-9592
  • 电子ISSN1539-4794
  • 文件大小1573.49KB
  • 发表时间2017-11-01
  • DOI10.1364/OL.42.004458
← 返回【学霸图书馆】主页