Electrically reversible cracks in an intermetallic film controlled by an electric field
Liu, Z. Q.; Liu, J. H.; Biegalski, M. D.; Hu, J.-M.; Shang, S. L.; Ji, Y.; Wang, J. M.; Hsu, S. L.; Wong, A. T.; Cordill, M. J.; Gludovatz, B.; Marker, C.; Yan, H.; Feng, Z. X.; You, L.; Lin, M. W.; Ward, T. Z.; Liu, Z. K.; Jiang, C. B.; Chen, L. Q.; Ritchie, R. O.; Christen, H. M.; Ramesh, R.
- 期刊名称Nature Communications
- 作者Liu, Z. Q.; Liu, J. H.; Biegalski, M. D.; Hu, J.-M.; Shang, S. L.; Ji, Y.; Wang, J. M.; Hsu, S. L.; Wong, A. T.; Cordill, M. J.; Gludovatz, B.; Marker, C.; Yan, H.; Feng, Z. X.; You, L.; Lin, M. W.; Ward, T. Z.; Liu, Z. K.; Jiang, C. B.; Chen, L. Q.; Ritchie, R. O.; Christen, H. M.; Ramesh, R.
- 卷第9卷
- 期第1期
- 电子ISSN2041-1723
- 文件大小1501.38KB
- 发表时间2018-12
- DOI10.1038/s41467-017-02454-8