Ab initio based calculations of the thermal conductivity at the micron scale

• 期刊名称Applied Physics Letters
• 作者Chaput, Laurent; Larroque, Jérôme; Dollfus, Philippe; Saint-Martin, Jérôme; Lacroix, David
• 卷第112卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0003-6951
• 电子ISSN1077-3118
• 文件大小503.20KB
• 发表时间2018-01-15
• DOI10.1063/1.5010959