Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

• 期刊名称Journal of Instrumentation
• 作者Jewell, M.; Schubert, A.; Cen, W.R.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Fabris, L.; Gratta, G.; Jamil, A.; Li, G.; Odian, A.; Patel, M.; Pocar, A.; Qiu, D.; Wang, Q.; Wen, L.J.; Albert, J.B.; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.; Beck, D.; Belov, V.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G.F.; Cao, L.; Chambers, C.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Côté, M.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; Didberidze, T.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Hansen, E.V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Hößl, J.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jiang, X.S.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Leonard, D.S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.; Murray, K.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Ortega, G. S.; Parent, S.; Piepke, A.; Pratte, J.-F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retiere, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
• 卷第13卷
• 期第1期
• 电子ISSN1748-0221
• 文件大小11619.76KB
• 发表时间2018-01-10
• DOI10.1088/1748-0221/13/01/P01006