The convolution algebra
- 期刊名称Algebra universalis
- 作者Harding, John; Walker, Carol; Walker, Elbert
- 卷第79卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0002-5240
- 电子ISSN1420-8911
- 文件大小626.33KB
- 发表时间2018-6
- DOI10.1007/s00012-018-0510-3
Book reviewsJ. Schürmann; H. Wolter; H. -J. Queisser; H. -J. Heintzmann; P. Richmond; H. K. V. Lotach; H. A. Kastrup; D. A. L. Paul · 1974
Stacking Faults in Epitaxial SiliconH. J. Queisser; R. H. Finch; J. Washburn · 1962
Book reviewsG. Eckart; H. K. V. Lotsch; H. -J. Queisser; H. Friedburg; J. Liebertz; H. L. Bertoni; F. Kneubühl · 1974
Book reviewsE. de Boer; D. A. Mlynski; H. -J. Queisser; W. H. Kegel; H. K. V. Lotsch; T. Wolfram; J. Ritter · 1975
Book reviewsW. Bötticher; O. J. Whitrow; H. Elsässer; H. -J. Queisser; A. Weiss; H. K. V. Lotsch · 1976
BuchbesprechungenE. Lamla; F. Boschke; G. Traving; G. Pfotzer; H. Wolter; W. Walcher; H. D. Dahmen; H. J. Queisser; W. W. Klingbeil; K. Beyermann; O. Müller; R. R. Ernst; D. Reinen; H. Muth; W. Becker; G. Wunsch; G. I. Distler; L. Jaenicke; H. G. v. Schnering; H. Werner; F. Reiff; H. Schimassek; W. Höll; H. K. Vasil; W. F. Angermeier; W. Ruppel; J. C. Eccles; G. Spiteller; H. Oettel; W. Vogell; P. Brosche; K. J. Hsü; H. -U. Schmincke · 1975
Charged defect states at silicon grain boundariesF. J. Stützler; H. J. Queisser · 1986
Charge transport in semiconductor microjunctionsR. Trzcinski; H. J. Queisser · 1988