Spin Lifetime and Charge Noise in Hot Silicon Quantum Dot Qubits

Petit, L.; Boter, J. M.; Eenink, H. G. J.; Droulers, G.; Tagliaferri, M. L. V.; Li, R.; Franke, D. P.; Singh, K. J.; Clarke, J. S.; Schouten, R. N.; Dobrovitski, V. V.; Vandersypen, L. M. K.; Veldhorst, M.

期刊名称Physical Review Letters
作者Petit, L.; Boter, J. M.; Eenink, H. G. J.; Droulers, G.; Tagliaferri, M. L. V.; Li, R.; Franke, D. P.; Singh, K. J.; Clarke, J. S.; Schouten, R. N.; Dobrovitski, V. V.; Vandersypen, L. M. K.; Veldhorst, M.
卷第121卷
期第7期
印刷ISSN0031-9007
电子ISSN1079-7114
文件大小531.20KB
发表时间2018-8-14
DOI10.1103/PhysRevLett.121.076801

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Spin Lifetime and Charge Noise in Hot Silicon Quantum Dot Qubits