Defect-Tolerant Logic Synthesis for Memristor Crossbars with Performance Evaluation

• 期刊名称IEEE Micro
• 作者Tunali, Onur; Morgul, M. Ceylan; Altun, Mustafa
• 卷第38卷
• 期第5期
• 印刷ISSN0272-1732
• 电子ISSN1937-4143
• 文件大小531.47KB
• 发表时间2018-9
• DOI10.1109/MM.2018.053631138
• 页码22-31