Silicon Nitride/Silicon Dioxide Echelle Grating Spectrometer for Operation Near 1.55 μm

• 期刊名称IEEE Photonics Journal
• 作者Xie, Shengjie; Meng, Yang; Bland-Hawthorn, Joss; Veilleux, Sylvain; Dagenais, Mario
• 卷第10卷
• 期第6期
• 文件大小2373.45KB
• 发表时间2018-12
• DOI10.1109/JPHOT.2018.2880182
• 页码1-7