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$FWHM of low-angle basal phyllosilicate XRD reflections : fitted peaks versus diffraction traces$

FWHM of low-angle basal phyllosilicate XRD reflections : fitted peaks versus diffraction traces

Kisch, Hanan J.

期刊名称Clay Minerals
作者Kisch, Hanan J.
印刷ISSN0009-8558
电子ISSN1471-8030
文件大小1192.71KB
发表时间2018-7-27
DOI10.1180/clm.2018.25
页码1-28

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